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硅材料復合測試儀

SZT-5硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的
1，二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率
在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導體材料。通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結(jié)果進行修整，例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù)，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。
SZT數(shù)字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。
2，整流法硅材料P-N性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行性判別
     本儀器工作環(huán)境條件為：
      　　溫　　度：18℃―25℃
            相對濕度：50%－70%
      工作室內(nèi)應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。
二，技術(shù)參數(shù)
1,測量范圍
（1）電阻率測量：
      電 阻 率        0.01-200Ω-cm
方塊電阻        0.01-200Ω-口
電    阻        0.01-200.0Ω



2,數(shù)字電壓表  
      (1)量    程 :       200mV單一量程
      (2)誤    差:      讀數(shù) ±0.2%±3字
(3)輸入電阻 :      >10MΩ
3,恒 流 源
      (1)電流輸出               0~10mA連續(xù)可調(diào)
      (2)量    程             1mA, 10mA
      (3)誤     差             ±0.2%±3字,
4,手持式四探針測試頭
(a)探  針  間  距::      1mm
  (b)探針機械游移率:      ±1.0%
  (c)探  針  材  料:      碳化鎢,φ0.
(d)壓力:  Z大 2Kg
（2）導電類型判別：
可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于"重摻"。